http://www.loc.gov/mods/v3 http://www.loc.gov/standards/mods/v3/mods-3-2.xsd
Automatic Generation of functional test patterns from RT language source
HARTENSTEIN, Reiner W. -- Automatic Generation of functional test patterns from RT language source. Reiner W. Hartenstein, Andrea Wodtko. - Kaiserslautern 1985. -- 7 gez. Bl. mit Fig. 4° -- (Fachbereich Informatik, Univ. Kaiserslautern. -- Interner Bericht 131.) -- 1985: B 125. -- Ir.
Fachbereich Informatik, Univ. Kaiserslautern. Interner Bericht 131