Untersuchung der Statistik der durch positive Ionen induzierten Sekundärelektronenemission an Metalloberflächen und ihre Anwendung auf massenspektrometrische Messungen der relativen Häufigkeit isotoper Ionen.
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|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | German |
| Published: |
Frankfurt a.M.
1976
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| Item Description: | D 159.084 -- ACHTSTEIN,Dieter: -- Untersuchung der Statistik der durch -- positive Ionen induzierten Sekundär- -- elektronenemission an Metalloberflächen -- und ihre Anwendung auf massenspektrometri- -- sche Messungen der relativen Häufigkeit -- isotoper Ionen. - Frankfurt a.M.1976. -- 48 S.m.31 Abb.u.2 Tab.8° -- Frankfurt a.M.,nat.wiss.Diss.1976. -- 1977! -- M. |
|---|---|
| Physical Description: | 48 S.m.31 Abb.u.2 Tab. 8° |