Die Verwendung des Elektronenmikroskops zur Sichtbarmachung von Netzebenenscharen in dünnen Einkristallen und zur Bestimmung ihres Netzebenenabstandes mittels der vergleichenden Feinbereichsbeugung
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|---|---|
| Format: | Livre |
| Langue: | allemand |
| Publié: |
Berlin
1963
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