Dickenmessungen an dünnen Silberschichten durch Interferenzen von Röntgenstrahlen und ultraviolettem Licht zur Bestimmung des Phasensprunges bei der Reflexion des ultravioletten Lichtes an den Schichten.
Wedi'i Gadw mewn:
| Prif Awdur: | |
|---|---|
| Fformat: | Llyfr |
| Iaith: | Almaeneg |
| Cyhoeddwyd: |
Hamburg
Schimkus
1936
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| Tagiau: |
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| Disgrifiad o'r Eitem: | Gierok, Hans: Dickenmessungen an dünnen Silberschichten durch Interferenzen von Röntgenstrahlen und ultraviolettem Licht zur Bestimmung des Phasensprunges bei der Reflexion des ultravioletten Lichtes an den Schichten. -- Hamburg 1936: Schimkus. 22 S. mit Abb. 4° [Maschinenschr. autogr.] -- <U 36. 4624 -- Hamburg, Math.-naturwiss. Diss. v. 7. Dez. 1935 |
|---|---|
| Disgrifiad Corfforoll: | 22 S. mit Abb. 4° |