Die objektive Erfassung seelischer Zuständlichkeiten bei lang einsitzenden Häftlingen. Eine Prüfung auf der Grundlage des Defekttests.

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Main Author: Grosch, Helmut Hanns
Format: Book
Language:German
Published: Erlangen, Nürnberg Universität, Fachbereich Medizin 1978
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