Hernaut, K. (1978). Höhere Genauigkeit in Entwurf und Analyse kritischer Funktionen in integrierten digitalen N-MOS-LSI-Schaltungen durch genauere Schaltungssimulation und elektronenmikroskopische Potentialmessungen. Univ., Abt. Elektrotechn.
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Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)
Hernaut, Krunoslav. Höhere Genauigkeit in Entwurf Und Analyse Kritischer Funktionen in Integrierten Digitalen N-MOS-LSI-Schaltungen Durch Genauere Schaltungssimulation Und Elektronenmikroskopische Potentialmessungen. Dortmund: Univ., Abt. Elektrotechn, 1978.
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MLA-Zitierstil (9. Ausg.)
Hernaut, Krunoslav. Höhere Genauigkeit in Entwurf Und Analyse Kritischer Funktionen in Integrierten Digitalen N-MOS-LSI-Schaltungen Durch Genauere Schaltungssimulation Und Elektronenmikroskopische Potentialmessungen. Univ., Abt. Elektrotechn, 1978.
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