Messung von Randschichtpotentialen an reinen und dotierten Silberhalogenid-Kristallen verschiedener Herstellung.
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Deutsch |
| Veröffentlicht: |
Frankfurt
1979
|
| Tags: |
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!
|
| eBook bestellen: |
|
| Buch ausleihen: | zum Bestellen einloggen |
| Beschreibung: | D 180.917 -- HEUSER, Hans-Gerhard: -- Messung von Randschichtpotentialen an rei- -- nen und dotierten Silberhalogenid-Kristallen -- verschiedener Herstellung. - Frankfurt 1979. -- 101 S. m. 51 Abb. u. 5 Tab. 8° -- Frankfurt, naturwiss.Diss. 1979. -- 1981! -- N. |
|---|---|
| Beschreibung: | 101 S. m. 51 Abb. u. 5 Tab. 8° |