Haftstellenspektroskopie mit DLTS an Defekten in Silicium.
Bewaard in:
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Formaat: | Boek |
| Taal: | Duits |
| Gepubliceerd in: |
1981
|
| Tags: |
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
| Order eBook: |
|
| Order Book: | Login to order |
| Beschrijving item: | L e f è v r e, Helmut: Haftstellenspektroskopie mit DLTS an Defekten in Silicium. -- 1981. 190 S. 8° -- Erlangen, Nürnberg, Univ., Nat.Fak.I, Diss. |
|---|---|
| Fysieke beschrijving: | 190 S. 8° |