Das Rauschspektrum von Silizium-Transistoren bei sehr tiefen Frequenzen gemessen in einem Thermostat hoher Genauigkeit.
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| 1. Verfasser: | |
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| Format: | Buch |
| Sprache: | Deutsch |
| Veröffentlicht: |
Basel
1968
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| Beschreibung: | NUEESCH, Erich.- -- Das Rauschspektrum von Silizium-Transistoren bei sehr tiefen Frequenzen gemessen in einem Thermostat hoher Genauigkeit. - -- Basel 1968.S.334-344;S.313-322.8° -- Aus:Zeitschrift für angewandte Mathematik -- und Physik,Bd.19,H.2;Helvetica physica act -- Bd.41,H.3. -- Basel,naturwiss.Diss.1968. -- 1972! -- B. |
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| Beschreibung: | S.334-344;S.313-322 8° |