Emissionsmikroskopische Messung der Ortsverteilung der im Rastermikroskop ausgelösten Sekundärelektronen.
Wedi'i Gadw mewn:
| Prif Awdur: | |
|---|---|
| Fformat: | Llyfr |
| Iaith: | Almaeneg |
| Cyhoeddwyd: |
Tübingen
1983
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Eitemau Tebyg: Emissionsmikroskopische Messung der Ortsverteilung der im Rastermikroskop ausgelösten Sekundärelektronen.
- Ueber die Geschwindigkeitsverteilung der an Isolatoren ausgelösten Sekundärelektronen.
- Messung der Ortsverteilung von gestreuten Elektronen in Durchstrahlung und Reflexion im Elektronenemissionsmikroskop.
- Pendelvervielfachung von Sekundärelektronen.
- Untersuchungen über Mehrfachemission von Sekundärelektronen.
- Über die Winkelverteilung der beim Auftreffen von Edelgasionen im mittleren Energiebereich 300 bis 4000 eV auf reine und gasbedeckte Wolframoberflächen ausgelösten Sekundärelektronen.
- Prüfung der theoretischen Erklärungen der Sekundärelektronen-Emission von Isolatoren