Röntgenographische Strukturbestimmung mit dem Picker-Einkristall-Diffraktometer bei tiefen Temperaturen.

Sábháilte in:
Sonraí bibleagrafaíochta
Príomhchruthaitheoir: Schulz, Friedrich Wilhelm
Formáid: LEABHAR
Teanga:Gearmáinis
Foilsithe / Cruthaithe: Karlsruhe Univ., Fak.f.Physik 1979
Clibeanna: Cuir clib leis
Níl clibeanna ann, Bí ar an gcéad duine le clib a chur leis an taifead seo!
Order eBook:
Order Book: Login to order

MARC

LDR 00000nam a2200000 c 4500
001 2556500
007 tu
041 |a ger 
100 1 |a Schulz, Friedrich Wilhelm 
245 1 0 |a Röntgenographische Strukturbestimmung mit dem Picker-Einkristall-Diffraktometer bei tiefen Temperaturen. 
246 3 |a Schulz, Friedrich Wilhelm 
264 1 |a Karlsruhe  |b Univ., Fak.f.Physik  |c 1979 
300 |a 75 S., 13 Abb., 11 Tab. 
500 |a Schulz, Friedrich Wilhelm -- Röntgenographische Strukturbestimmung mit dem -- Picker-Einkristall-Diffraktometer bei tiefen -- Temperaturen. -- 1979. 75 S., 13 Abb., 11 Tab. -- Karlsruhe, Univ., Fak.f.Physik, Diss.1979. 
852 |c D 168.225 
999 |a Dissertation 
591 |a description: Röntgenographische Strukturbestimmung mit demPickerEinkristallDiffraktometer bei tiefenTemperaturen.1979. 75 S., 13 Abb., 11 Tab.Karlsruhe, Univ., Pak.f.Physik, Diss.1979.  |a author: Schulz, Friedrich Wilhelm  |a published: 1979