Streb, W. G. (1985). Charakterisierung von vorwiegend durch Ionenimplantation hergestellten, dünnen Siliziumoxid-, Siliziumnitrid- und Siliziumoxynitrid-Schichten auf Silizium mit Augerelektronenspektroskopie und Elektronenergieverlustspektroskopie.
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Streb, Wolfgang Gerhard. Charakterisierung Von Vorwiegend Durch Ionenimplantation Hergestellten, Dünnen Siliziumoxid-, Siliziumnitrid- Und Siliziumoxynitrid-Schichten Auf Silizium Mit Augerelektronenspektroskopie Und Elektronenergieverlustspektroskopie. 1985.
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Streb, Wolfgang Gerhard. Charakterisierung Von Vorwiegend Durch Ionenimplantation Hergestellten, Dünnen Siliziumoxid-, Siliziumnitrid- Und Siliziumoxynitrid-Schichten Auf Silizium Mit Augerelektronenspektroskopie Und Elektronenergieverlustspektroskopie. 1985.
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