Schichtdickenbestimmung und elektronenmikroskopische Untersuchung an abschreckend kondensierten Kupferschichten.

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Main Author: Wagner, Eckhard
Format: Book
Language:German
Published: Köln 1974
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Item Description:Wagner, Eckhard -- Wagner, Eckhard: Schichtdickenbestimmung und -- elektronenmikroskopische Untersuchung an ab- -- schreckend kondensierten Kupferschichten. -- 1974. 44 S. 8° -- Köln, Univ., Math.-Naturwiss. Fak., Diss. v. -- 1974
Physical Description:44 S. 8°