Die Lebensdauer von Überschuß- und Defektelektronen in hochreinem Silizium und ihre Temperaturabhängigkeit.

Wedi'i Gadw mewn:
Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awdur: Zerbst, Manfred
Fformat: Llyfr
Iaith:Almaeneg
Cyhoeddwyd: o. O. 1958
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MARC

LEADER 00000nam a2200000 c 4500
001 3508057
007 tu
008 580519s1958 gw 000 0 ger
041 |a ger 
100 1 |a Zerbst, Manfred 
245 1 0 |a Die Lebensdauer von Überschuß- und Defektelektronen in hochreinem Silizium und ihre Temperaturabhängigkeit. 
246 3 |a Zerbst, Manfred 
264 1 |a o. O.  |c 1958 
300 |a 74 S. mit Abb.  |c 8º 
500 |a Zerbst, Manfred: Die Lebensdauer von Überschuß- und Defektelektronen in hochreinem Silizium und ihre Temperaturabhängigkeit. -- o. O. 1958. 74 S. mit Abb. 8º -- Frankfurt, Naturwiss. F., Diss. v. 19. Mai 1958. 
852 |c D 69.935 
999 |a Dissertation 
591 |a description: Die Lebensdauer von Überschuß und Defektelektronen in hochreinem Silizium und ihre Temperaturabhängigkeit. o. O. 1958. 74 S. mit Abb. 8 U 58. 2150Frankfurt, Naturwiss. F., Diss. v. 19. Mal 1968.  |a author: Zerbst, Manfred  |a published: 1968