Untersuchung der elektronenoptischen Eigenschaften von Ablenksystemen für die Anwendung elektronenlithographischer Bildaufzeichnungen.

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Autor principal: Kilger, Gerhard
Format: Llibre
Idioma:alemany
Publicat: 1980
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LEADER 00000nam a2200000 c 4500
001 925460
007 tu
041 |a ger 
100 1 |a Kilger, Gerhard 
245 1 0 |a Untersuchung der elektronenoptischen Eigenschaften von Ablenksystemen für die Anwendung elektronenlithographischer Bildaufzeichnungen. 
246 3 |a Kilger, Gerhard 
264 1 |c 1980 
300 |a 87 S.  |c 8° 
500 |a Kilger, Gerhard -- Untersuchung der elektronenoptischen Eigenschaften -- von Ablenksystemen für die Anwendung elektronen- -- lithographischer Bildaufzeichnungen. -- 1980. 87 S. 8° -- Tübingen, Univ., Fak. f. Physik, Diss. 1980 
852 |c 179.182 
999 |a Dissertation 
591 |a description: BestellNr StandortUntersuchung der elektronenoptischen Eigenschaftenvon Ablenksystemen für die Anwendung elektronenlithographischer Bildaufzeichnungen.1980. 67 S. 8Tübingen, Univ., Fak. f. Physik, Diss. 1980  |a author: Kilger, Gerhard  |a published: 1980