Untersuchungen der Tracerdiffusion von Kupfer in Silberbromid, Kupfer(I)-bromid und Lithiumbromid im Vergleich mit Leitfähigkeits- und Kernresonanzmessungen.

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Schaefgen, Hans-Peter
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:գերմաներեն
Հրապարակվել է: Bochum 1982
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
Order eBook:
Order Book: Login to order

MARC

LEADER 00000nam a2200000 c 4500
001 2513690
007 tu
008 820101s1982 gw 000 0 ger
041 |a ger 
100 1 |a Schaefgen, Hans-Peter 
245 1 0 |a Untersuchungen der Tracerdiffusion von Kupfer in Silberbromid, Kupfer(I)-bromid und Lithiumbromid im Vergleich mit Leitfähigkeits- und Kernresonanzmessungen. 
246 3 |a SCHAEFGEN, Hans-Peter.- 
264 1 |a Bochum  |c 1982 
300 |a 191 S. m. Tab. u. Abb.  |c 8° 
500 |a D 192.250 -- SCHAEFGEN, Hans-Peter.- -- Untersuchungen der Tracerdiffusion von Kupfer -- in Silberbromid, Kupfer(I)-bromid und Lithi- -- umbromid im Vergleich mit Leitfähigkeits- -- und Kernresonanzmessungen. - Bochum 1982. -- 191 S. m. Tab. u. Abb. 8° -- Bochum, naturwiss. Diss. 1982. -- 1983! -- N. 
852 |c D 192.250 
999 |a Dissertation 
591 |a description: Untersuchungen der Tracerdiffusion von Kupferin Silberbromid,Kupfer l bromid und Lithiumbromid im Vergleich mit Leitfähigkeitsund Kernresonanzmessungen. Bochum 1982.191 S. m. Tab. u. Abb. 8Bochum,naturwiss.Diss.1982.1983 N.  |a signature: D 192.250  |a author: SCHAEFGEN, HansPeter.  |a published: 1983