Untersuchungen der Tracerdiffusion von Kupfer in Silberbromid, Kupfer(I)-bromid und Lithiumbromid im Vergleich mit Leitfähigkeits- und Kernresonanzmessungen.

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Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Schaefgen, Hans-Peter
Formaat: Boek
Taal:Duits
Gepubliceerd in: Bochum 1982
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