Automatic Generation of functional test patterns from RT language source

פריטים דומים

• Automatic Generation of functional test patterns from RT language source
  מאת: Hartenstein, Reiner W.
  יצא לאור: (1985)
• C-testable Cells for ATPG from RT description.
  מאת: Wodtko, Andrea
  יצא לאור: (1985)
• Rex. Automatic extraction of RT-level, descriptions from integrated circuit layout data.
  מאת: Nebel, Wolfgang
  יצא לאור: (1986)
• Automatic Language Translation. Lexical and technical aspects, with particular reference to Russian.
  מאת: Oettinger, Anthony G.
  יצא לאור: (1960)
• From generation to generation
  מאת: Noel, Augusta
  יצא לאור: (1880)