Automatic Generation of functional test patterns from RT language source

Samankaltaisia teoksia

• Automatic Generation of functional test patterns from RT language source
  Tekijä: Hartenstein, Reiner W.
  Julkaistu: (1985)
• C-testable Cells for ATPG from RT description.
  Tekijä: Wodtko, Andrea
  Julkaistu: (1985)
• Rex. Automatic extraction of RT-level, descriptions from integrated circuit layout data.
  Tekijä: Nebel, Wolfgang
  Julkaistu: (1986)
• Automatic Language Translation. Lexical and technical aspects, with particular reference to Russian.
  Tekijä: Oettinger, Anthony G.
  Julkaistu: (1960)
• From generation to generation
  Tekijä: Noel, Augusta
  Julkaistu: (1880)