Automatic Generation of functional test patterns from RT language source

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor principal: Hartenstein, Reiner W.
Altres autors: Wodtko, Andrea
Format: Llibre
Idioma:anglès
Publicat: Kaiserslautern 1985
Col·lecció:Fachbereich Informatik, Univ. Kaiserslautern. Interner Bericht 131
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
Order eBook:
Order Book: Login to order

MARC

LEADER 00000nam a2200000 c 4500
001 817448
007 tu
041 |a eng 
100 1 |a Hartenstein, Reiner W. 
245 1 0 |a Automatic Generation of functional test patterns from RT language source 
246 3 |a HARTENSTEIN, Reiner W. 
264 1 |a Kaiserslautern  |c 1985 
300 |a 7 gez. Bl. mit Fig.  |c 4° 
490 0 |a Fachbereich Informatik, Univ. Kaiserslautern. Interner Bericht  |v 131 
500 |a HARTENSTEIN, Reiner W. -- Automatic Generation of functional test patterns from RT language source. Reiner W. Hartenstein, Andrea Wodtko. - Kaiserslautern 1985. -- 7 gez. Bl. mit Fig. 4° -- (Fachbereich Informatik, Univ. Kaiserslautern. -- Interner Bericht 131.) -- 1985: B 125. -- Ir. 
700 1 |a Wodtko, Andrea 
852 |c T 20.678/131 
999 |a Monographie 
591 |a description: Automatic Generation of functional test par, terns from RT language source.Reiner W.Hartenstein,Andrea Wodtko. Kaiserslautern 1985,7 gez.Bl.mit Fig.4 Fachbereich Informatik,Univ.Kaiserslautern.Interner Bericht.131. 1985:B 125. Ir.  |a signature: T 20.678j  |a author: HARTEN3TEIN, Reiner W.  |a published: 1985