Automatic Generation of functional test patterns from RT language source
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | |
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | Αγγλικά |
| Έκδοση: |
Kaiserslautern
1985
|
| Σειρά: | Fachbereich Informatik, Univ. Kaiserslautern. Interner Bericht
131 |
| Ετικέτες: |
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
| Order eBook: |
|
| Order Book: | Login to order |
| Περιγραφή τεκμηρίου: | HARTENSTEIN, Reiner W. -- Automatic Generation of functional test patterns from RT language source. Reiner W. Hartenstein, Andrea Wodtko. - Kaiserslautern 1985. -- 7 gez. Bl. mit Fig. 4° -- (Fachbereich Informatik, Univ. Kaiserslautern. -- Interner Bericht 131.) -- 1985: B 125. -- Ir. |
|---|---|
| Φυσική περιγραφή: | 7 gez. Bl. mit Fig. 4° |