Automatic Generation of functional test patterns from RT language source
Збережено в:
| Автор: | |
|---|---|
| Інші автори: | |
| Формат: | Книга |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Kaiserslautern
1985
|
| Серія: | Fachbereich Informatik, Univ. Kaiserslautern. Interner Bericht
131 |
| Теги: |
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Order eBook: |
|
| Order Book: | Login to order |
Схожі ресурси: Automatic Generation of functional test patterns from RT language source
- Automatic Generation of functional test patterns from RT language source
- C-testable Cells for ATPG from RT description
- Rex. Automatic extraction of RT-level, descriptions from integrated circuit layout data.
- ABLED, a RT level schematics editor and simulator interface
- Automatic Language Translation. Lexical and technical aspects, with particular reference to Russian.
- From generation to generation