Zur Messung des Dotierungsprofils in Halbleiterdioden
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | alemán |
| Publicado: |
Basel
1972
|
| Etiquetas: |
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
| Order eBook: |
|
| Order Book: | Login to order |
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 2630463 | ||
| 007 | tu | ||
| 041 | |a ger | ||
| 100 | 1 | |a Stocker, Rudolf | |
| 245 | 1 | 0 | |a Zur Messung des Dotierungsprofils in Halbleiterdioden |
| 246 | 3 | |a STOCKER, Rudolf: | |
| 264 | 1 | |a Basel |c 1972 | |
| 300 | |a S.200-212, 827-333 |c 8° | ||
| 500 | |a STOCKER, Rudolf: -- Zur Messung des Dotierungsprofils in -- Halbleiterdioden.1.Eine Methode zur -- Messung des Dotierungsprofils von -- Halbleitermethoden.2.Die Bestimmung -- des Dotierungsprofils in Dioden mit -- großer Haftstellendichte. - Basel -- 1972 .S.200-212,827-333. 8° -- Basel,1972 phil.Diss.1972. -- 1975! -- f -- i. | ||
| 852 | |c D 143.972. | ||
| 999 | |a Dissertation | ||