Zur Messung des Dotierungsprofils in Halbleiterdioden
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | němčina |
| Vydáno: |
Basel
1972
|
| Tagy: |
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
| Order eBook: |
|
| Order Book: | Login to order |
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 2630463 | ||
| 007 | tu | ||
| 041 | |a ger | ||
| 100 | 1 | |a Stocker, Rudolf | |
| 245 | 1 | 0 | |a Zur Messung des Dotierungsprofils in Halbleiterdioden |
| 246 | 3 | |a STOCKER, Rudolf: | |
| 264 | 1 | |a Basel |c 1972 | |
| 300 | |a S.200-212, 827-333 |c 8° | ||
| 500 | |a STOCKER, Rudolf: -- Zur Messung des Dotierungsprofils in -- Halbleiterdioden.1.Eine Methode zur -- Messung des Dotierungsprofils von -- Halbleitermethoden.2.Die Bestimmung -- des Dotierungsprofils in Dioden mit -- großer Haftstellendichte. - Basel -- 1972 .S.200-212,827-333. 8° -- Basel,1972 phil.Diss.1972. -- 1975! -- f -- i. | ||
| 852 | |c D 143.972. | ||
| 999 | |a Dissertation | ||
| 591 | |a description: M rn r T i l Oriiur Hessun:r . des Dotierungsprofils inHalbleiterdioden.1.Eine Methode zurMessung des Dotierungsprofils vonlialbleiterniethoden. 2 .Die Bestimmungdes Dotierungsprofilc in Dioden mitr v o T1 i o N o 4 o l l o i r i o i t o . o l jj. J i tJL äi.vL lj O ü ..L JLU J. :U.iL i uo . i C ,kj JL.1972 .S.2oo2l2,827333. 8Basel,1972 phil.Diris . 1972 .1975 |a author: LOCr.::, iiuaoli |a published: 1975 | ||