Zur Messung des Dotierungsprofils in Halbleiterdioden
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|---|---|
| Format: | Livre |
| Langue: | allemand |
| Publié: |
Basel
1972
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| Description: | STOCKER, Rudolf: -- Zur Messung des Dotierungsprofils in -- Halbleiterdioden.1.Eine Methode zur -- Messung des Dotierungsprofils von -- Halbleitermethoden.2.Die Bestimmung -- des Dotierungsprofils in Dioden mit -- großer Haftstellendichte. - Basel -- 1972 .S.200-212,827-333. 8° -- Basel,1972 phil.Diss.1972. -- 1975! -- f -- i. |
|---|---|
| Description matérielle: | S.200-212, 827-333 8° |