Höhere Genauigkeit in Entwurf und Analyse kritischer Funktionen in integrierten digitalen N-MOS-LSI-Schaltungen durch genauere Schaltungssimulation und elektronenmikroskopische Potentialmessungen.
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|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | German |
| Published: |
Dortmund
Univ., Abt. Elektrotechn.
1978
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