Interface States in metal-oxide-semiconductor-field-effect-transistors.
Պահպանված է:
| Հիմնական հեղինակ: | |
|---|---|
| Ձևաչափ: | Գիրք |
| Լեզու: | անգլերեն |
| Հրապարակվել է: |
Basel
1970
|
| Ցուցիչներ: |
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
| Order eBook: |
|
| Order Book: | Login to order |
Նմանատիպ նյութեր: Interface States in metal-oxide-semiconductor-field-effect-transistors.
- Charge Trapping near the Si/SiO2 interface in semiconductor devices.
- Offset Gate Field Effect Transistors with high drain breakdown potential and low Miller feedback capacitance.
- Semiconductor Physics.
- Mobile ions in metal-oxide-silicon structures effects of ion implantation and annealing
- Handbook of semiconductor electronics. A practical manual covering the physics, technology, and circuit applications of transistors, diodes, and photocells.
- Effect of conduction band spin splitting on transport properties of ferromagnetic semiconductors