Charge Trapping near the Si/SiO2 interface in semiconductor devices.

Furkejuvvon:
Bibliográfalaš dieđut
Váldodahkki: HILLEN, Michiel Wouter
Materiálatiipa: Girji
Giella:eaŋgalasgiella
Almmustuhtton: Groningen 1981
Fáddágilkorat: Lasit fáddágilkoriid
Eai fáddágilkorat, Lasit vuosttaš fáddágilkora!
Order eBook:
Order Book: Login to order
Govvádus
Fuomášahttimat:HILLEN,Michiel Wouter: -- Charge Trapping near the Si/SiO2 interface -- in semiconductor devices. - Groningen 1981. -- XVI,160 S.m.Fig.u.Tab. 8° -- Groningen,naturwiss.Diss. 1981. -- 1982! -- Fie.
Olgguldas hápmi:XVI, 160 S. m. Fig. u. Tab. 8°