Charge Trapping near the Si/SiO2 interface in semiconductor devices.
Saved in:
| Hovedforfatter: | |
|---|---|
| Format: | Bog |
| Sprog: | engelsk |
| Udgivet: |
Groningen
1981
|
| Tags: |
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|
| Order eBook: |
|
| Order Book: | Login to order |
Vær først til at give en kommentarø!